В выпусках 9–14 было опубликовано исследование Международной ассоциации поставщиков оборудования и материалов для полупроводниковой промышленности – SEMI (Милпитас, шт. Калифорния, США). Доклад содержит краткое описание процессов, товаров и технологий, необходимых для производства полупроводниковых приборов, а также рекомендации по укреплению цепочки поставок полупроводниковых приборов в США и повышению устойчивости отрасли в целом. Публикация завершается в текущем номере.

Сегодня развитие перспективных систем помощи водителю (ADAS) привело к выходу на рынок автомобилей уровней автоматизации 2+ и 2++. Это высококлассные, дорогие машины, комплектация которых в основном предлагает автоматический режим под контролем человека, что достигается с помощью измерительного и вычислительного оборудования стоимостью несколько тысяч долларов. Большим шагом вперед был бы скачок на недостижимый ранее третий уровень автоматизации, означающий, что водитель может отвлечься от вождения, в то же время имея возможность быстро вернуть себе контроль над автомобилем. Но, учитывая текущие цены на оборудование ADAS, к переходу на уровень 3 отрасль еще не готова.

Компания ZEISS (Оберкохен, ФРГ) представила две новые технологии реконструкции, использующие для улучшения сбора и анализа данных и значительного ускорения принятия решений искусственный интеллект (ИИ). Модули ZEISS DeepRecon Pro и ZEISS PhaseEvolve, ориентированные на перспективный набор инструментальных средств реконструкции (Advanced Reconstruction Toolkit, ART) на 3D-рентгеновских платформах ZEISS Xradia, позволяют увеличить пропускную способность почти в 10 раз и улучшить качество изображения. Они предназначены для исследований в таких областях, как науки о Земле, фармацевтика, электроника, аккумуляторы и инженерные материалы, а также для анализа отказов полупроводниковых приборов.

В предыдущем выпуске начата публикация перевода статьи из издания Semiconductor Digest, посвященной вопросам освоения EUV-литографии в массовом производстве ИС, в частности применению глубокого обучения для нахождения дефектов на изображениях шаблонов, полученных на сканирующем электронном микроскопе (SEM) с помощью цифровых двойников, и использования результатов для нахождения дефектов на SEM-изображениях реальных шаблонов. Представляем завершение статьи.

В 1971 г., по распоряжению Министерства электронной промышленности СССР, ЦНИИ «Электроника» приступил к подготовке и изданию научно-технического бюллетеня «Экспресс-информация по зарубежной электронной технике», ориентированного на широкий круг отраслевых специалистов и специалистов смежных отраслей, студентов и преподавателей профильных вузов. Первоначально бюллетень издавался ежедневно по рабочим дням, с 1992 г. он стал выходить раз в неделю, а с августа 2016-го (после объединения с научно-техническим сборником «Зарубежная электронная техника», издававшегося институтом с 1970 г.) – раз в две недели.

Недавно корпорация IC Insights оценила перспективы развития парка установленных мощностей полупроводниковой промышленности с учетом географической структуры. По ее данным, доля азиатских стран будет расти, а Европы и США – снижаться. Наивысшие темпы роста производственной базы ожидаются в КНР.