В прошлом выпуске было размещено начало статьи, посвященной обучению моделей искусственного интеллекта. В первой части рассматривались вопросам разбивки моделей, трансферного обучения и пошагового...

Обучение модели искусственного интеллекта требует огромных усилий и больших объемов данных. Использование существующих методов и моделей обучения может сэкономить время и деньги, способствовать ускорению...

В прошлом выпуске была опубликована первая часть статьи о инфраструктуре трактов передачи данных и средств связи, часто называемой высокопроизводительными вычислениями. Эта инфраструктура...

Обычно низкая потребляемая мощность ассоциируется с устройствами, работающими от аккумуляторных батарей, такими как смартфоны, умные часы и ноутбуки. При этом существует несколько других...

В предыдущем выпуске было опубликовано начало статьи, посвященной вопросу использования алгоритмов компьютерного (машинного) зрения и методов машинного обучения для тестирования пластин....

Усложнение конструкций перспективных ИС и уменьшение минимальных размеров топологических элементов, ужесточающиеся требования к надежности приводят к необходимости совершенствования методов контроля, ...

В предыдущем выпуске начата публикация перевода статьи из издания Semiconductor Digest, посвященной вопросам освоения EUV-литографии в массовом производстве ИС, в частности применению глубокого обучения...

С освоением EUV-литографии в массовом производстве ИС связаны не только дополнительные преимущества, но и новые проблемы. Одной из них является дефектность шаблонов. Недавно опубликованная в Semiconductor...

Увеличение объемов данных, необходимых для интеллектуальных устройств, побуждает к переоценке вычислительной производительности, осуществлямой с учетом возможностей и принципов работы...

Искусственный интеллект (ИИ) получает все большее распространение, в т. ч. в изделиях и технологиях микроэлектроники, способствуя как повышению производительности, так и снижению...